0

Dispositivo de alineación de muestras para un difractómetro de rayos x

Diseño y fabricación, con control de posición e interfaz de manipulación

Bod
Erschienen am 01.05.2017
CHF 47,30
(inkl. MwSt.)
UVP

Lieferbar in ca. 10-14 Arbeitstagen

In den Warenkorb
Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783639538571
Sprache: Spanisch
Umfang: 68
Auflage: 1. Auflage

Beschreibung

Este proyecto está enfocado en mejorar los análisis de difracción de rayos X de los diferentes tamaños de muestras de materiales, a través del diseño y la fabricación de un dispositivo mecánico que controla la posición de la probeta, logrando una orientación precisa con respecto al haz de rayos X, esto beneficia al sector industrial en el desarrollo de nuevos proyectos con materiales al mejorar el desempeño de los mismos. El dispositivo requiere de la integración de distintos elementos mecánicos y electrónicos adicional a conocimientos en el área de control y programación para lograr su correcto funcionamiento, con un alto grado de precisión necesario para garantizar la posición de la muestra, a partir del diseño y la buena elección de los materiales en la fabricación.

Autorenportrait

Daniel Santiago Jiménez NovoaIngeniero en Mecatrónica de la Universidad Militar Nueva Granada, aprende con rapidez nuevas ideas y conceptos, desarrolla soluciones creativas e innovadoras.Participante de Semillero de investigación y Auxiliar de investigación en Grupo de investigación VOLTA de la Universidad Militar Nueva Granada. Bogotá, Colombia.

Weitere Artikel aus der Kategorie "Technik"

Lieferbar innerhalb 36 Stunden

CHF 28,90
inkl. MwSt.
UVP

Lieferbar innerhalb 36 Stunden

CHF 180,00
inkl. MwSt.
UVP

Lieferbar innerhalb 36 Stunden

CHF 47,30
inkl. MwSt.
UVP

Lieferzeit unbestimmt

CHF 93,40
inkl. MwSt.
UVP

Lieferbar innerhalb 36 Stunden

CHF 57,90
inkl. MwSt.
UVP

Lieferzeit unbestimmt

CHF 39,50
inkl. MwSt.
UVP
Alle Artikel anzeigen